产品介绍
基于近红外光谱选择性吸收原理，非接触、无损在线测量有机卷材、涂层的面密度 / 厚度，可同时测水分，多用于卷对卷产线实时闭环质量控制，无放射性。AMT/HW-CHY
工作原理
依据朗伯 - 比尔定律，近红外光（780~2500nm）照射物料，有机物 C-H 键、O-H 键会选择性吸收特定波长近红外光；材料越厚、面密度越高，光吸收越强。通过多波长对比算法，扣除干扰，换算得到面密度（克重），材质密度稳定时即可输出厚度；多层共挤膜可单独解析每层厚度。
另一种：近红外光谱干涉法，用于透明薄膜、半导体厚膜，通过薄膜上下表面反射光干涉解析膜厚。
系统组成
- 近红外光学探头：近红外光源、滤光片、光电探测器；分透射式 / 反射式
- 扫描架（选配）：横向扫描，生成横向厚度轮廓曲线
- 控制器 / 工控单元：光谱信号采集、模型运算、数据存储
- 输出接口：4-20mA、RS485、Modbus，对接 PLC/DCS
- 上位机软件：实时曲线、厚度分布、超限报警、报表、历史追溯
测量参数
膜层厚度、面密度（克重）、水分含量；单层 / 多层有机涂层、薄膜。
适用场景
- 锂电：极片涂布、隔膜厚度 / 面密度在线监测
- 塑料薄膜：BOPP、PET、PE 多层共挤膜
- 包装：不干胶、胶带、离型纸背胶涂层
- 造纸 / 无纺布：纸张定量、无纺布面密度
- 橡胶、纺织、胶粘涂层、高分子板材
核心优势
- 非接触无损测量，不划伤卷材，无放射源，安全环保
- 响应速度快，可定点 / 横向扫描，实时监控幅面厚度均匀性
- 一套系统同时测厚度 + 水分
- 适合多层共挤材料，可区分各单层厚度
- ✅ 无核辐射，无需核安全备案，运维简单
基于近红外光谱选择性吸收原理，非接触、无损在线测量有机卷材、涂层的面密度 / 厚度，可同时测水分，多用于卷对卷产线实时闭环质量控制，无放射性。AMT/HW-CHY
工作原理
依据朗伯 - 比尔定律，近红外光（780~2500nm）照射物料，有机物 C-H 键、O-H 键会选择性吸收特定波长近红外光；材料越厚、面密度越高，光吸收越强。通过多波长对比算法，扣除干扰，换算得到面密度（克重），材质密度稳定时即可输出厚度；多层共挤膜可单独解析每层厚度。
另一种：近红外光谱干涉法，用于透明薄膜、半导体厚膜，通过薄膜上下表面反射光干涉解析膜厚。
系统组成
- 近红外光学探头：近红外光源、滤光片、光电探测器；分透射式 / 反射式
- 扫描架（选配）：横向扫描，生成横向厚度轮廓曲线
- 控制器 / 工控单元：光谱信号采集、模型运算、数据存储
- 输出接口：4-20mA、RS485、Modbus，对接 PLC/DCS
- 上位机软件：实时曲线、厚度分布、超限报警、报表、历史追溯
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测量参数
膜层厚度、面密度（克重）、水分含量；单层 / 多层有机涂层、薄膜。
适用场景
- 锂电：极片涂布、隔膜厚度 / 面密度在线监测
- 塑料薄膜：BOPP、PET、PE 多层共挤膜
- 包装：不干胶、胶带、离型纸背胶涂层
- 造纸 / 无纺布：纸张定量、无纺布面密度
- 橡胶、纺织、胶粘涂层、高分子板材
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核心优势
- 非接触无损测量，不划伤卷材，无放射源，安全环保
- 响应速度快，可定点 / 横向扫描，实时监控幅面厚度均匀性
- 一套系统同时测厚度 + 水分
- 适合多层共挤材料，可区分各单层厚度
- ✅ 无核辐射，无需核安全备案，运维简单
