Jauge d'épaisseur pour électrodes de lithium - AMT/HW-CHY
- Sonde optique proche infrarouge : source proche infrarouge, filtres, photodétecteurs ; mode transmission / Mode réflexion
- Portique de balayage (en option) : balayage transversal, génération de la courbe de profil d'épaisseur transversale
Présentation du produit
Basé sur le principe d'absorption sélective par spectroscopie proche infrarouge,En ligne, non destructif, sans contactMesure de la masse surfacique des matériaux en rouleau organiques et des revêtements / épaisseur, avec mesure simultanée de l'humidité, principalement utilisée pour le contrôle qualité en boucle fermée en temps réel sur les lignes de production rouleau à rouleau, sans radioactivité.AMT/HW-CHY Analyseur d'épaisseur
Principe de fonctionnement
SelonLambert - Loi de Beer , lumière proche infrarouge (780~2500nm) irradie le matériau, les substances organiquesC-H liaison,O-H les liaisons absorbent sélectivement certaines longueurs d'onde du proche infrarouge ; plus le matériau est épais et la masse surfacique élevée, plus l'absorption lumineuse est forte. Grâce à un algorithme de comparaison multi-longueurs d'onde, les interférences sont éliminées et l'on obtientMasse surfacique (grammage)Lorsque la densité du matériau est stable, l'épaisseur peut être calculée ; le film multicouche coextrudé permet d'analyser séparément l'épaisseur de chaque couche.
Autre méthode : interférométrie par spectroscopie proche infrarouge, utilisée pour les films transparents et les couches épaisses semi-conductrices, l'épaisseur du film est déterminée par l'analyse des interférences des réflexions sur les surfaces supérieure et inférieure du film.
Composition du système
- Sonde optique proche infrarouge : source proche infrarouge, filtres, photodétecteurs ; mode transmission / Mode réflexion
- Portique de balayage (en option) : balayage transversal, génération de la courbe de profil d'épaisseur transversale
- Contrôleur / Unité de contrôle industriel : acquisition de signaux spectraux, calcul de modèles, stockage de données
- Interface de sortie:4-20mA、RS485、Modbus , interface avecPLC/DCS
- Logiciel superviseur : courbes en temps réel, distribution d'épaisseur, alarme de dépassement, rapports, traçabilité historique
测量参数
Épaisseur de couche, masse surfacique (grammage), teneur en humidité ; monocouche / Revêtements organiques multicouches, films.
Scénarios applicables
- Lithium : revêtement d'électrodes, épaisseur de séparateur / Surveillance en ligne de la masse surfacique
- Film plastique :BOPP、PET、PE Film multicouche coextrudé
- Emballage : autocollant, ruban adhésif, revêtement adhésif sur papier siliconé
- Industrie papetière / Non-tissé : grammage du papier, masse surfacique du non-tissé
- Caoutchouc, textile, revêtements adhésifs, plaques polymères
核心优势
- Mesure sans contact et non destructive , sans rayer le matériau en rouleau, sans source radioactive, sûr et écologique
- Vitesse de réponse rapide, mesure ponctuelle possible / Balayage transversal, surveillance en temps réel de l'uniformité d'épaisseur sur toute la largeur
- Un systèmeMesure simultanée de l'épaisseur + Humidité
- Adapté aux matériaux multicouches coextrudés, permet de distinguer l'épaisseur de chaque couche
- ✅ Sans radiation nucléaire, aucune déclaration de sécurité nucléaire requise, maintenance simple