Jauge d'épaisseur 4-20mA AMT/HW-CH
Jauge d'épaisseur 4-20mA

Jauge d'épaisseur 4-20mA - AMT/HW-CH

  1. Sonde optique proche infrarouge : source proche infrarouge, filtres, photodétecteurs ; mode transmission / Mode réflexion
  2. Portique de balayage (en option) : balayage transversal, génération de la courbe de profil d'épaisseur transversale
Modèle de produit : AMT/HW-CH

Présentation du produit

Basé sur le principe d'absorption sélective par spectroscopie proche infrarouge,En ligne, non destructif, sans contactMesure de la masse surfacique des matériaux en rouleau organiques et des revêtements / épaisseur, avec mesure simultanée de l'humidité, principalement utilisée pour le contrôle qualité en boucle fermée en temps réel sur les lignes de production rouleau à rouleau, sans radioactivité.AMT/HW-CHY Analyseur d'épaisseur

Principe de fonctionnement

SelonLambert - Loi de Beer , lumière proche infrarouge (780~2500nm) irradie le matériau, les substances organiquesC-H liaison,O-H les liaisons absorbent sélectivement certaines longueurs d'onde du proche infrarouge ; plus le matériau est épais et la masse surfacique élevée, plus l'absorption lumineuse est forte. Grâce à un algorithme de comparaison multi-longueurs d'onde, les interférences sont éliminées et l'on obtientMasse surfacique (grammage)Lorsque la densité du matériau est stable, l'épaisseur peut être calculée ; le film multicouche coextrudé permet d'analyser séparément l'épaisseur de chaque couche.

Autre méthode : interférométrie par spectroscopie proche infrarouge, utilisée pour les films transparents et les couches épaisses semi-conductrices, l'épaisseur du film est déterminée par l'analyse des interférences des réflexions sur les surfaces supérieure et inférieure du film.

Composition du système

  1. Sonde optique proche infrarouge : source proche infrarouge, filtres, photodétecteurs ; mode transmission / Mode réflexion
  2. Portique de balayage (en option) : balayage transversal, génération de la courbe de profil d'épaisseur transversale
  3. Contrôleur / Unité de contrôle industriel : acquisition de signaux spectraux, calcul de modèles, stockage de données
  4. Interface de sortie:4-20mA、RS485、Modbus , interface avecPLC/DCS
  5. Logiciel superviseur : courbes en temps réel, distribution d'épaisseur, alarme de dépassement, rapports, traçabilité historique

 测量参数

Épaisseur de couche, masse surfacique (grammage), teneur en humidité ; monocouche / Revêtements organiques multicouches, films.

 Scénarios applicables

  • Lithium : revêtement d'électrodes, épaisseur de séparateur / Surveillance en ligne de la masse surfacique
  • Film plastique :BOPP、PET、PE Film multicouche coextrudé
  • Emballage : autocollant, ruban adhésif, revêtement adhésif sur papier siliconé
  • Industrie papetière / Non-tissé : grammage du papier, masse surfacique du non-tissé
  • Caoutchouc, textile, revêtements adhésifs, plaques polymères

核心优势

  •  Mesure sans contact et non destructive , sans rayer le matériau en rouleau, sans source radioactive, sûr et écologique
  •  Vitesse de réponse rapide, mesure ponctuelle possible / Balayage transversal, surveillance en temps réel de l'uniformité d'épaisseur sur toute la largeur
  • Un systèmeMesure simultanée de l'épaisseur + Humidité
  •  Adapté aux matériaux multicouches coextrudés, permet de distinguer l'épaisseur de chaque couche
  • ✅ Sans radiation nucléaire, aucune déclaration de sécurité nucléaire requise, maintenance simple