Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire SKA/JHW-CHY
Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire

Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire - SKA/JHW-CHY


Performances de mesure

• Plage de mesure : 0,01~10 mm (personnalisable)

• Précision de mesure : ±0,5 % FS

• Résolution : 0,001 mm

• Fréquence d'échantillonnage : 10~100 Hz réglable

• Diamètre du spot : 1~5 mm

• Matériaux mesurés : films plastiques, caoutchouc, revêtements, non-tissés, etc.

Paramètres environnementaux

• Température de fonctionnement : 0~50 ℃

• Température de stockage : -20~70 ℃

• Humidité ambiante : 10 %~85 % HR, sans condensation

• Indice de protection : IP65

Modèle de produit : SKA/JHW-CHY

Présentation du produit

Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire - Présentation du produit
L'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche est un équipement de détection d'épaisseur sans contact utilisé pour la surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire. Mots-clés de recherche : instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche, surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire, mesureur d'épaisseur par infrarouge proche. Cet instrument est installé de manière fixe sur la ligne de production de films arrière solaires, peut détecter en continu l'épaisseur des films arrière, des films d'encapsulation et des films EVA, et convient aux industries photovoltaïque et des nouvelles énergies. Dans la surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire, l'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche peut refléter en temps réel les variations d'épaisseur, aidant les entreprises à contrôler la qualité des produits et à réduire les fluctuations de performance des modules.

Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire - Principe de fonctionnement
L'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche utilise les propriétés d'absorption et de réflexion de la lumière infrarouge proche lorsqu'elle traverse le film arrière solaire, et calcule l'épaisseur du film arrière en mesurant les variations d'intensité lumineuse à des longueurs d'onde spécifiques. Dans la surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire, l'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche adopte une méthode de mesure sans contact, sans endommager la surface du film arrière, avec une vitesse de réponse rapide. L'instrument prend en charge les sorties 4-20mA, RS485 et Modbus, peut être connecté aux systèmes PLC, DCS et de contrôle de ligne de production, et dispose de fonctions d'étalonnage automatique et d'autodiagnostic des pannes.

Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire - Scénarios d'application
L'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche est largement utilisé dans les lignes de production de films arrière solaires, de films d'encapsulation, de films EVA et de modules photovoltaïques. Dans la surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire, l'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche peut être installé de manière fixe à la sortie de l'extrudeuse, sur la machine de laminage et avant l'enroulement, pour collecter en temps réel les données d'épaisseur. L'instrument peut être couplé à l'extrudeuse, à la machine de laminage et au système d'enroulement pour réaliser un réglage automatique de l'épaisseur. Pour les grandes lignes de production photovoltaïques, l'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche peut également former un réseau de surveillance multipoint, téléchargeant uniformément les données vers la salle de contrôle.

Instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche - Surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire - Avantages techniques
L'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche présente les avantages d'être sans contact, de haute précision et de bonne stabilité. Dans la surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire, l'instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche utilise une source lumineuse à longue durée de vie et une conception optique anti-contamination, adaptée au fonctionnement à long terme. L'instrument prend en charge l'étalonnage à distance et l'autodiagnostic des pannes, ce qui facilite la maintenance. Lors du choix d'un instrument de mesure d'épaisseur par infrarouge proche, il convient de prêter attention à la plage de mesure, à la précision, au temps de réponse, à l'indice de protection et aux signaux de sortie, afin de garantir la satisfaction des besoins de surveillance en ligne de l'épaisseur du film arrière solaire.

Principaux domaines d'application

  • Production de panneaux solaires — Surveillance en ligne de l'épaisseur des films arrière, des films d'encapsulation et des films EVA pour garantir la qualité et la performance des modules photovoltaïques.
  • Fabrication de films plastiques — Contrôle d'épaisseur en continu des films plastiques, caoutchoucs et non-tissés pour assurer la conformité aux spécifications.
  • Industrie des revêtements — Mesure non destructive de l'épaisseur des revêtements sur divers substrats pour un contrôle qualité précis.
  • Production de batteries — Surveillance de l'épaisseur des séparateurs et des électrodes dans la fabrication de batteries lithium-ion.
  • Contrôle qualité en ligne — Intégration dans les lignes de production pour une détection en temps réel des variations d'épaisseur et une réduction des rebuts.

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