Medidor de espessura de monitoramento contínuo online - AMT/HW-CHY
Composição do sistema
- Sonda óptica de infravermelho próximoFonte de infravermelho próximo, filtro óptico, fotodetector; tipo transmissivo / Modo reflexivo
Introdução do produto
Baseado no princípio de absorção seletiva por espectroscopia de infravermelho próximo,Não destrutivo, não contato, em linhaMedição da densidade superficial de bobinas orgânicas e revestimentos / espessura, com medição simultânea de umidade, amplamente utilizado em linhas de produção rolo a rolo para controle de qualidade em malha fechada em tempo real, sem radioatividade.AMT/HW-CHY Medidor de espessura
Working principle
Baseado emLambert - Lei de Beerinfravermelho próximo (780~2500nm) irradia o material, compostos orgânicosC-H ligação,O-H As ligações absorvem seletivamente comprimentos de onda específicos de infravermelho próximo; quanto mais espesso o material e maior a densidade superficial, mais forte é a absorção de luz. Através de algoritmo de comparação multi-comprimento de onda, eliminando interferências, converte-se paraDensidade superficial (gramatura)Quando a densidade do material é estável, a espessura pode ser medida; filmes de coextrusão multicamadas podem ter a espessura de cada camada analisada individualmente.
Outro tipo: método de interferência espectral por infravermelho próximo, usado para filmes transparentes e filmes espessos semicondutores, analisa a espessura do filme através da interferência da luz refletida nas superfícies superior e inferior do filme.
Composição do sistema
- Sonda óptica de infravermelho próximoFonte de infravermelho próximo, filtro óptico, fotodetector; tipo transmissivo / Modo reflexivo
- Pórtico de varredura (opcional)Varredura transversal, geração de curva de perfil de espessura transversal
- Controlador / Unidade de controle industrialAquisição de sinais espectrais, cálculo de modelos, armazenamento de dados
- Interface de saída：4-20mA、RS485、Modbusconexão comPLC/DCS
- Software de supervisãoCurva em tempo real, distribuição de espessura, alarme de limite excedido, relatórios, rastreamento histórico
Parâmetros de medição
Espessura da camada de filme, densidade superficial (gramatura), teor de umidade; camada única / Revestimentos orgânicos multicamadas, filmes.
适用场景
- Lítio: revestimento de eletrodos, espessura de separador / Monitoramento em linha da densidade superficial
- Filme plástico:BOPP、PET、PE Filme de coextrusão multicamadas
- Embalagem: adesivo autoadesivo, fita adesiva, revestimento adesivo em papel siliconado
- Fabricação de papel / Não tecido: gramatura de papel, densidade superficial de não tecido
- Borracha, têxtil, revestimentos adesivos, placas poliméricas
核心优势
- 非接触无损测量Não risca a bobina, sem fonte radioativa, seguro e ecológico
- Resposta rápida, pode ser ponto fixo / Varredura transversal, monitoramento em tempo real da uniformidade de espessura da largura
- Um sistemaMedição simultânea de espessura + Umidade
- Adequado para materiais de coextrusão multicamadas, capaz de distinguir a espessura de cada camada individual
- ✅ Sem radiação nuclear, sem necessidade de registro de segurança nuclear, manutenção simples
Principais áreas de aplicação
- Indústria de Baterias de Lítio — Medição de espessura de revestimento de eletrodos em tempo real para garantir uniformidade e desempenho.
- Filmes Plásticos e Embalagens — Monitoramento contínuo da espessura de filmes durante a produção para reduzir desperdícios.
- Indústria Têxtil — Controle de densidade superficial de tecidos e não tecidos em linhas de produção.
- Papel e Celulose — Medição de umidade e espessura de papel em tempo real para otimizar o processo.
- Revestimentos e Adesivos — Verificação da espessura de camadas de revestimento aplicadas em substratos diversos.
Palavras-chave：medidor de espessura, medição online, infravermelho próximo, controle de qualidade, espessura de revestimento, densidade superficial, sensor NIR, monitoramento contínuo
