AMT/HW-CHY 测厚仪 - AMT/HW-CHY
- Sonda óptica de infravermelho próximoFonte de infravermelho próximo, filtro óptico, fotodetector; tipo transmissivo / Modo reflexivo
- Pórtico de varredura (opcional)Varredura transversal, geração de curva de perfil de espessura transversal
Introdução do produto
Baseado no princípio de absorção seletiva por espectroscopia de infravermelho próximo,Não destrutivo, não contato, em linhaMedição da densidade superficial de bobinas orgânicas e revestimentos / espessura, com medição simultânea de umidade, amplamente utilizado em linhas de produção rolo a rolo para controle de qualidade em malha fechada em tempo real, sem radioatividade.AMT/HW-CHY Medidor de espessura
Working principle
Baseado emLambert - Lei de Beerinfravermelho próximo (780~2500nm) irradia o material, compostos orgânicosC-H ligação,O-H As ligações absorvem seletivamente comprimentos de onda específicos de infravermelho próximo; quanto mais espesso o material e maior a densidade superficial, mais forte é a absorção de luz. Através de algoritmo de comparação multi-comprimento de onda, eliminando interferências, converte-se paraDensidade superficial (gramatura)Quando a densidade do material é estável, a espessura pode ser medida; filmes de coextrusão multicamadas podem ter a espessura de cada camada analisada individualmente.
Outro tipo: método de interferência espectral por infravermelho próximo, usado para filmes transparentes e filmes espessos semicondutores, analisa a espessura do filme através da interferência da luz refletida nas superfícies superior e inferior do filme.
Composição do sistema
- Sonda óptica de infravermelho próximoFonte de infravermelho próximo, filtro óptico, fotodetector; tipo transmissivo / Modo reflexivo
- Pórtico de varredura (opcional)Varredura transversal, geração de curva de perfil de espessura transversal
- Controlador / Unidade de controle industrialAquisição de sinais espectrais, cálculo de modelos, armazenamento de dados
- Interface de saída：4-20mA、RS485、Modbusconexão comPLC/DCS
- Software de supervisãoCurva em tempo real, distribuição de espessura, alarme de limite excedido, relatórios, rastreamento histórico
Parâmetros de medição
Espessura da camada de filme, densidade superficial (gramatura), teor de umidade; camada única / Revestimentos orgânicos multicamadas, filmes.
适用场景
- Lítio: revestimento de eletrodos, espessura de separador / Monitoramento em linha da densidade superficial
- Filme plástico:BOPP、PET、PE Filme de coextrusão multicamadas
- Embalagem: adesivo autoadesivo, fita adesiva, revestimento adesivo em papel siliconado
- Fabricação de papel / Não tecido: gramatura de papel, densidade superficial de não tecido
- Borracha, têxtil, revestimentos adesivos, placas poliméricas
核心优势
- 非接触无损测量Não risca a bobina, sem fonte radioativa, seguro e ecológico
- Resposta rápida, pode ser ponto fixo / Varredura transversal, monitoramento em tempo real da uniformidade de espessura da largura
- Um sistemaMedição simultânea de espessura + Umidade
- Adequado para materiais de coextrusão multicamadas, capaz de distinguir a espessura de cada camada individual
- ✅ Sem radiação nuclear, sem necessidade de registro de segurança nuclear, manutenção simples
Principais áreas de aplicação
- Controle de qualidade em linha — Monitoramento contínuo da espessura e gramatura em linhas de produção de rolos a rolos, permitindo ajustes em tempo real.
- Revestimento e laminação — Medição não destrutiva da espessura de revestimentos e camadas em substratos flexíveis, garantindo uniformidade.
- Indústria de papel e celulose — Determinação de gramatura e umidade em papel e cartão durante o processo de fabricação.
- Filmes plásticos e embalagens — Verificação da espessura de filmes plásticos e materiais de embalagem sem contato, evitando danos.
- Têxteis e não tecidos — Medição de gramatura e espessura em tecidos e não tecidos para controle de qualidade.
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