Medidor de densidad superficial por infrarrojo cercano - AMT/HW-CHY
- Sonda óptica de infrarrojo cercano:Fuente de luz infrarroja cercana, filtro óptico, fotodetector; tipo transmisivo / Tipo reflectivo
- Pórtico de escaneo (opcional):Escaneo transversal, genera curva de perfil de espesor transversal
Introducción del producto
Basado en el principio de absorción selectiva de espectros de infrarrojo cercano,En línea, sin contacto y no destructivoMedición de la densidad superficial de rollos orgánicos y recubrimientos / Espesor, con medición simultánea de humedad, utilizado principalmente en líneas de producción rollo a rollo para control de calidad en lazo cerrado en tiempo real, sin radiactividad.AMT/HW-CHY
Principio de funcionamiento
SegúnLambert - Ley de Beer,luz infrarroja cercana (780~2500nm) irradia el material, los compuestos orgánicosC-H Enlace,O-H Los enlaces absorben selectivamente longitudes de onda específicas de luz infrarroja cercana; cuanto más grueso es el material y mayor es la densidad superficial, más fuerte es la absorción de luz. Mediante un algoritmo de comparación de múltiples longitudes de onda, se eliminan las interferencias y se convierte para obtenerDensidad superficial (gramaje)Cuando la densidad del material es estable, se puede obtener el espesor; la película coextruida multicapa permite analizar individualmente el espesor de cada capa.
Otro tipo: método de interferencia espectral de infrarrojo cercano, utilizado para películas transparentes y películas gruesas semiconductoras, que analiza el espesor de la película mediante la interferencia de la luz reflejada en las superficies superior e inferior de la película.
Composición del sistema
- Sonda óptica de infrarrojo cercano:Fuente de luz infrarroja cercana, filtro óptico, fotodetector; tipo transmisivo / Tipo reflectivo
- Pórtico de escaneo (opcional):Escaneo transversal, genera curva de perfil de espesor transversal
- Controlador / Unidad de control industrial:Adquisición de señales espectrales, cálculo de modelos, almacenamiento de datos
- 输出接口:4-20mA、RS485、Modbus,conexión conPLC/DCS
- Software de computadora host:Curvas en tiempo real, distribución de espesor, alarma por exceso de límite, informes, trazabilidad histórica
Parámetros de medición
Espesor de capa, densidad superficial (gramaje), contenido de humedad; monocapa / Recubrimientos orgánicos multicapa, películas.
适用场景
- Litio: recubrimiento de electrodos, espesor de separador / Monitoreo en línea de densidad superficial
- Película plástica:BOPP、PET、PE Película coextruida multicapa
- Embalaje: adhesivo autoadhesivo, cinta adhesiva, recubrimiento adhesivo sobre papel antiadherente
- Fabricación de papel / No tejido: gramaje de papel, densidad superficial de no tejido
- Caucho, textil, recubrimientos adhesivos, placas poliméricas
核心优势
- Medición sin contacto y no destructiva,no raya el rollo, sin fuente radiactiva, seguro y ecológico
- Respuesta rápida, puede fijarse en un punto / Escaneo transversal, monitoreo en tiempo real de la uniformidad de espesor del ancho
- Un sistemaMedición simultánea de espesor + Humedad
- Adecuado para materiales coextruidos multicapa, puede distinguir el espesor de cada capa individual
- ✅ Sin radiación nuclear, sin necesidad de registro de seguridad nuclear, mantenimiento simple
Principales áreas de aplicación
- Fabricación de películas y láminas — Control en línea de densidad superficial y espesor de películas plásticas, láminas y recubrimientos durante la producción rollo a rollo.
- Industria de recubrimientos y adhesivos — Medición no destructiva del gramaje de recubrimientos y capas adhesivas en sustratos flexibles para garantizar uniformidad.
- Producción de papel y celulosa — Monitoreo continuo del peso base y contenido de humedad en papel y cartón para optimizar el proceso y reducir desperdicios.
- Fabricación de baterías y electrónica — Verificación de densidad de recubrimiento en electrodos y materiales funcionales durante la producción de celdas y componentes electrónicos.
- Industria textil y no tejidos — Medición de densidad superficial y humedad en telas, no tejidos y materiales compuestos para control de calidad en línea.
Palabras clave:medidor de densidad superficial, sensor NIR, medición no destructiva, control de calidad en línea, espesor de recubrimiento, densidad de banda, infrarrojo cercano, monitoreo de humedad