激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测SKA/LZ-JSQ
激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测

激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测 - SKA/LZ-JSQ

测量性能

• 检测原理:光散射法

• 采样流量:2.83L/min(0.1cfm,洁净厂房最常用);可选28.3L/min

• 测量粒径通道:常规 0.3μm、0.5μm、1.0μm、2.0μm、5.0μm、10μm

• 测量范围:0~999999颗/L

• 重复性:±10%

• 采样周期:1~60s可设置

• 光源:激光二极管

产品型号: SKA/LZ-JSQ

产品介绍

激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测 - 产品概述
激光尘埃粒子计数仪是一种基于激光散射原理的高精度尘埃粒子检测仪器,搜索关键词:激光尘埃粒子计数仪、半导体车间洁净度检测、尘埃粒子计数器。该仪器可连续检测半导体车间内不同粒径的尘埃粒子数量,适用于晶圆制造、封装测试和光刻工序等洁净环境监测。半导体车间洁净度检测中,激光尘埃粒子计数仪能够实时反映洁净度变化,帮助企业及时发现污染源并采取控制措施。

激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测 - 工作原理
激光尘埃粒子计数仪利用激光光源照射采样气流,当尘埃粒子通过激光束时产生散射光,经光电探测器接收并转换为电信号,再根据信号幅度和数量计算粒子粒径和浓度。半导体车间洁净度检测中,激光尘埃粒子计数仪可同时测量0.1μm、0.2μm、0.3μm、0.5μm、1.0μm、5.0μm等多个粒径通道。该仪器响应速度快,采样流量稳定,支持RS485、Modbus和4-20mA输出,可接入洁净室监控系统。

激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测 - 应用场景
激光尘埃粒子计数仪广泛应用于半导体车间的光刻区、刻蚀区、薄膜区和封装测试区。半导体车间洁净度检测中,激光尘埃粒子计数仪可安装在关键工艺设备附近、人员出入口和回风通道。仪器可与空调净化系统、声光报警器和监控平台联动,实现自动调节和报警。对于需要连续监测的半导体车间,激光尘埃粒子计数仪还可组成多点监测网络,统一上传至控制中心。

激光尘埃粒子计数仪 半导体车间洁净度检测 - 技术优势
激光尘埃粒子计数仪具有检测精度高、响应速度快、稳定性好等优点。半导体车间洁净度检测中,激光尘埃粒子计数仪采用长寿命激光光源和抗污染光学设计,适合长期运行。该仪器支持数据存储、打印和远程通信,维护方便。选择激光尘埃粒子计数仪时,应关注粒径通道、采样流量、检测范围、精度和通信方式,确保满足半导体车间洁净度检测需求