적외선 감량 수분 측정기 AMT/SFY-HW
적외선 감량 수분 측정기

적외선 감량 수분 측정기 - AMT/SFY-HW

참고: 시장에서 '적외선 수분 측정기'라고 불리는 제품은 두 종류로 나뉘며, 원리가 완전히 달라 혼동하기 쉽습니다. 1) 적외선 가열 감량식(데스크톱 실험실용)

제품 모델: AMT/SFY-HW

제품 소개

적외선 수분계

주의: 시장에서 “적외선 수분계”는 두 가지 유형으로 나뉘며, 원리가 완전히 달라 혼동하기 쉽습니다. 1)적외선 가열 중량손실식 (데스크톱 실험실용):적외선 램프 가열 건조 + 칭량, 열중량손실법; 2)근적외선 분광식 NIR (온라인 중심):물 분자의 특징적인 적외선 흡수,비접촉 비파괴, 가열 없음,산업 생산라인용.

1. 적외선 가열 중량손실식 수분계 (데스크톱, 실험실용)

원리

적외선 발열관이 시료를 복사 가열하여 수분이 가열 증발되고, 건조 전후 중량 차이를 칭량하여 수분 함량을 계산합니다. 건조로법과 원리가 같으며, 열원만 적외선 복사 가열을 사용합니다.

특징

  • ✅조작이 간단하고 가격이 저렴;315 분 단위로 결과 도출;
  • ❗적외선은 표면 가열로 침투 깊이가 얕아, 두껍고 치밀한 시료는 겉은 마르고 속은 젖기 쉽습니다. 온도가 너무 높으면 시료가 분해·휘발되어 결과가 높게 나옵니다.

주요 간섭 / 오차 원인

  1. 온도 설정 부적절:온도가 너무 높으면 유기물, 휘발성 성분이 휘발되어 결과가 높게 나옵니다. 온도가 부족하면 수분이 완전히 증발하지 않아 결과가 낮게 나옵니다.
  2. 환경 기류 직접 분사:열풍 / 냉풍이 칭량 접시에 직접 불어 무게 판독값이 흔들리므로 반드시 방풍 커버를 설치해야 합니다.
  3. 칭량 시스템 드리프트:정기 계량 검정이 필요합니다. 시료 접시, 가열 창에 잔류 탄화물이 적외선 복사를 차단하여 가열이 불균일해집니다.
  4. 시료 상태:시료를 너무 두껍게 펴거나 덩어리지면 내부 수분이 빠져나올 수 없습니다. 시료 입자가 너무 큰 경우.
  5. 환경 온·습도 급격한 변동천칭 칭량 유닛에 영향을 줍니다.

적용: 곡물, 사료, 플라스틱 입자, 분말; 분해되기 쉽거나 극히 휘발성인 시료에는 부적합.

2. 근적외선 NIR 스펙트럼식 적외선 수분계 (온라인 산업용 중심)

원리

물 분자는1.45μm、1.94μm강한 적외선 흡수 피크가 있습니다. 기기가 특정 파장의 적외선을 방출하여 물질을 조사하고, 반사광 강도를 측정하며, 참조 파장으로 차분 연산하여 수분을 환산합니다.시료를 파괴하지 않고, 시료 채취가 필요 없으며, 비접촉, 밀리초급 응답,주로 벨트, 생산라인 연속 검출에 사용됩니다.

핵심:상대 측정이므로 반드시 표준 방법(건조로 / 칼피셔)로 교정 모델링을 해야 하며, 맨 기기로 측정하여 절대 수분을 바로 낼 수 없습니다.。

구조

광원, 필터 / 분광 모듈, 검출기, 신호 처리, 교정 모델 라이브러리.

대표적 응용

제지, 섬유, 곡물, 사료, 화학 분말, 건축자재, 제약 입자, 담배잎 등에 사용되며, 벨트, 슈트 위에 설치하여 온라인 실시간 수분 모니터링을 합니다.

간섭 요인 (중점, 현장에서 가장 문제가 되기 쉬운 부분)

1. 물질 자체 간섭 (최대 원인)

1)물질 색상, 광택, 거칠기, 입자 크기 변화:적외선 반사율을 변화시켜 직접 판독값 드리프트를 유발합니다. 동일 물질의 입자 크기가 변하면 데이터가 치우칩니다. 2)물질 조성 변화: 유지, 단백질, 전분, 하이드록실계 유기물은 근적외선 영역에서도 흡수가 있어 수분 신호에 교차 간섭을 일으킵니다.3)물질 온도 변화:물의 적외선 흡수 피크가 이동합니다. 물질 온도가 변동하면 온도 보상이 없을 경우 수분 판독값이 명확히 편차를 보입니다. 4)물질 두께, 재층 두께: 재층이 너무 얇으면/ 두께·얇음 변동으로 반사광 강도가 변합니다. 벨트 위 물질이 갑자기 두꺼워지거나 얇아지면 수치가 요동칩니다.